• Sách ngoại văn
  • Ký hiệu PL/XG: T174.7 .L43 2010
    Nhan đề: Fundamental principles of engineering nanometrology / by Richard K. Leach.

LCC T174.7
DDC 620.50287
Tác giả CN Leach, R. K.
Nhan đề Fundamental principles of engineering nanometrology / by Richard K. Leach.
Lần xuất bản 1st ed.
Thông tin xuất bản Amsterdam :Oxford : Elsevier Science , : William Andrew ;, c2010.
Mô tả vật lý xxvi, 321 p. : ill. ; 24 cm.
Tùng thư Micro and nano technologies
Thuật ngữ chủ đề Nanotechnology.
Thuật ngữ chủ đề Microtechnology.
Thuật ngữ chủ đề Metrology.
Môn học Vật liệu kỹ thuật
000 01451nam a22004338a 4500
0013898
00212
0047D16A8B5-3BE0-44C0-B10A-2605E08137A5
005201201060931
008090825s2010 enka b 001 0 eng
0091 0
015 |2bnb|aGBA987440
0167 |2Uk|a015362389
020 |a0080964540 (hbk.)
020 |a9780080964546 (hbk.)
0291 |aAU@|b000045029966
0291 |aGBVCP|b608582212
035 |a(OCoLC)ocn435734573
039|a06-Jan-2012 02:31:08|bretbatler|c05-Jan-2012 09:54:17|dretbatler|y05-Jan-2012 09:37:50|zretbatler
049 |aBXMM
05004|aT174.7|b.L43 2010
08204|222|a620.50287
1001 |aLeach, R. K.
24510|aFundamental principles of engineering nanometrology / |cby Richard K. Leach.
250 |a1st ed.
260 |aAmsterdam :|aOxford : |bElsevier Science , : |bWilliam Andrew ;, |cc2010.
263 |a200909
300 |axxvi, 321 p. : |bill. ; |c24 cm.
4901 |aMicro and nano technologies
504 |aIncludes bibliographical references and index.
650 0|aNanotechnology.
650 0|aMicrotechnology.
650 0|aMetrology.
690|aVật liệu kỹ thuật
830 0|aMicro & nano technologies
8561|uhttps://thuvien.ntu.edu.vn/ntukiposdata/ntulibdigitalcollections/coverimages/600_khoahocungdung_congnghe/620_congnghe_hoatdonglienhe/620_congnghevahoatdonglienhe/fundamentalprinciplesofengineeringnanometrologythumbimage.jpg
890|a0|b0|c1|d0
999|aThư viện Đại học Nha Trang
Không tìm thấy biểu ghi nào
Nhận xét