• Sách ngoại văn
  • Ký hiệu PL/XG: 621.38152
    Nhan đề: CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : [electronic resource] :process-aware SRAM design and test / Andrei Pavlov, Manoj Sachdev.

DDC 621.38152
Tác giả CN Pavlov, Andrei,
Nhan đề CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test / Andrei Pavlov, Manoj Sachdev.
Thông tin xuất bản [Dordrecht] : Springer, c2008.
Mô tả vật lý xvi, 193 p. : ill. ; 25 cm.
Thuật ngữ chủ đề Nanoelectronics.
Thuật ngữ chủ đề Metal oxide semiconductors, Complementary-Design.
Thuật ngữ chủ đề Random access memory.
Môn học Mạch điện
Môn học Kỹ thuật điện
Tác giả(bs) CN Sachdev, Manoj.
Tác giả(bs) TT SpringerLink (Online service)
Địa chỉ Thư viện Đại học Nha Trang
000 01835nam a2200445Ia 4500
00126845
00212
003SIRSI
004C154F363-9D0C-4609-A9A8-4241DE8F9D66
005201306101422
006m d
007cr cn|
008090529s2008 ne a sb 001 0 eng d
0091 0
039|a20130610142057|bnguyenloi|y20130610094759|znguyenloi
08204|222|a621.38152
1001 |aPavlov, Andrei,|cPh. D.
24510|aCMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : |bprocess-aware SRAM design and test / |cAndrei Pavlov, Manoj Sachdev.|h[electronic resource] :
260 |a[Dordrecht] : |bSpringer, |cc2008.
300 |axvi, 193 p. : |bill. ; |c25 cm.
650 0|aNanoelectronics.
650 0|aMetal oxide semiconductors, Complementary|xDesign.
650 0|aRandom access memory.
655 0|aElectronic books.
690|aMạch điện
690|aKỹ thuật điện
7001 |aSachdev, Manoj.
7102 |aSpringerLink (Online service)
852|aThư viện Đại học Nha Trang
8561|uhttps://thuvien.ntu.edu.vn/ntukiposdata2/sachdientu/tienganh/600_khoahocungdung_congnghe/620_congnghe_hoatdonglienhe/cmos sram circuit design...process-aware sram design and test_andrei pavlov/00.1402083629_001thumbimage.jpg
890|a0|b0|c1|d0
999|aBrigham Young University
Không tìm thấy biểu ghi nào
Nhận xét