NTU Trường Đại học Nha Trang
Bộ GD&ĐT
Tra cứu văn bằng
E-Learning
E-Office
TRA CỨU
STT Nội dung
1
Applied metrology for manufacturing engineering / by Ammar Grous.
Hoboken, NJ : ISTE ; : 2011.
xv, 677 p. : ill. ; 24 cm.
Grous, Ammar.

Đầu mục:0 (Lượt lưu thông:0) Tài liệu số:1 (Lượt truy cập:0)

2
Fundamental principles of engineering nanometrology / by Richard K. Leach.
Amsterdam : Elsevier Science , : c2010.
xxvi, 321 p. : ill. ; 24 cm.
Leach, R. K.

Đầu mục:0 (Lượt lưu thông:0) Tài liệu số:1 (Lượt truy cập:0)

3
Springer handbook of metrology and testing / edited Horst Czichos, Tetsuya Saito, Leslie Smith
Berlin : Springer, c2011.
xxxii, 1229 p. : ill. (some col.)


Đầu mục:0 (Lượt lưu thông:0) Tài liệu số:1 (Lượt truy cập:0)