NTU Trường Đại học Nha Trang
Bộ GD&ĐT
Tra cứu văn bằng
E-Learning
E-Office
TRA CỨU
STT Nội dung
1
Fundamental principles of engineering nanometrology / by Richard K. Leach.
Amsterdam : Elsevier Science , : c2010.
xxvi, 321 p. : ill. ; 24 cm.
Leach, R. K.

Đầu mục:0 (Lượt lưu thông:0) Tài liệu số:1 (Lượt truy cập:0)