STT Nội dung
1
Advanced environmental monitoring / Young J. Kim and Ulrich Platt.
Dordrecht, The Netherlands : Springer, 2008.
xxii, 420 p. : ill. (some col.) ; 24 cm.
Kim, Young J.

Đầu mục:0 (Lượt lưu thông:0) Tài liệu số:1 (Lượt truy cập:0)