NTU Trường Đại học Nha Trang
Bộ GD&ĐT
Tra cứu văn bằng
E-Learning
E-Office
TRA CỨU
STT Nội dung
1
CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test / Andrei Pavlov, Manoj Sachdev.
[Dordrecht] : Springer, c2008.
xvi, 193 p. : ill. ; 25 cm.
Pavlov, Andrei,

Đầu mục:0 (Lượt lưu thông:0) Tài liệu số:1 (Lượt truy cập:0)