• Sách ngoại văn
  • Ký hiệu PL/XG: TK7870.23 .S77 2011
    Nhan đề: Structural dynamics of electronic and photonic systems / edited by Ephraim Suhir, David S. Steinberg, T.X. Yu.

LCC TK7870.23
DDC 621.382
Nhan đề Structural dynamics of electronic and photonic systems / edited by Ephraim Suhir, David S. Steinberg, T.X. Yu.
Thông tin xuất bản Hoboken, N.J. : Wiley, c2011.
Mô tả vật lý x, 598 p. : ill. ; 25 cm.
Thuật ngữ chủ đề Microstructure.
Thuật ngữ chủ đề Structural dynamics.
Thuật ngữ chủ đề Fault tolerance (Engineering)
Thuật ngữ chủ đề Electronic apparatus and appliances - Reliability.
Thuật ngữ chủ đề Optoelectronic devices-Reliability.
Môn học Quang điện tử
Tác giả(bs) CN Steinberg, Dave S.,
Tác giả(bs) CN Yu, T. X.
Tác giả(bs) CN Suhir, Ephraim.
000 02878nam a22003374a 4500
00125403
00212
004E56E21DD-AF68-417B-814E-D8C3DD64863D
005201304021613
008100723s2011 njua b 001 0 eng
0091 0
010 |a 2010031072
020 |a9780470250020 (hardback)
039|a20130402161308|boanhntk|c20130402160246|doanhntk|y20130402155741|zoanhntk
040 |aDLC|cDLC|dDLC
042 |apcc
05000|aTK7870.23|b.S77 2011
08200|222|a621.382
24500|aStructural dynamics of electronic and photonic systems / |cedited by Ephraim Suhir, David S. Steinberg, T.X. Yu.
260 |aHoboken, N.J. : |bWiley, |cc2011.
300 |ax, 598 p. : |bill. ; |c25 cm.
650 0|aMicrostructure.
650 0|aStructural dynamics.
650 0|aFault tolerance (Engineering)
650 0|aElectronic apparatus and appliances - Reliability.
650 0|aOptoelectronic devices|xReliability.
690|aQuang điện tử
7001 |aSteinberg, Dave S.,|d1923-
7001 |aYu, T. X.|d1941-|q(Tongxi),
7001 |aSuhir, Ephraim.
8561|uhttps://thuvien.ntu.edu.vn/ntukiposdata2/sachdientu/tienganh/600_khoahocungdung_congnghe/620_congnghe_hoatdonglienhe/structural dynamics of_ephraim suhir/0047025002x_001thumbimage.jpg
890|a0|b0|c1|d1
999|aLibrary of Congress|tjetdsp_bibsummary
Không tìm thấy biểu ghi nào
Nhận xét