Trường Đại học Nha Trang
Bộ GD&ĐT
Tra cứu văn bằng
E-Learning
E-Office
Giới thiệu
Chức năng nhiệm vụ
Nhân sự
Thời gian làm việc
Giới thiệu chung
Sơ đồ Thư viện
Tra cứu
Tìm lướt
Tìm Từ khóa
Tìm Chuyên gia
Tìm Toàn văn
Tra cứu liên thư viện
Tài Liệu Mới
Cơ sở dữ liệu mở
Tạp chí
Người dùng
Hướng dẫn (Video)
Hướng dẫn sử dụng
Gửi yêu cầu
Nội quy - Chính sách
Diễn Đàn
Gửi yêu cầu
DỊCH VỤ THƯ VIỆN
Dịch vụ miễn phí
Dịch vụ có phí
Đăng nhập
Nhan đề
Tác giả
Chủ đề
Điểm truy cập chính
Tóm tắt
Mọi trường
Toàn văn
Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Tập 33, Số 4, 2014
Mục lục:
Dòng
Nội dung
1
Guest Editorial Special Section on Contemporary and Emerging Issues in Physical Design
2
Characterizing VeSFET-Based ICs with CMOS-Oriented EDA Infrastructure / Xiang Qiu, Malgorzata Marek-Sadowska, Wojciech P. Maly
3
Multibit Retention Registers for Power Gated Designs: Concept, Design, and Deployment / Yu-Guang Chen and others
4
On the Deployment of On-Chip Noise Sensors / Tao Wang and others
5
Variation-Aware Geometric Programming Models for the Clock Network Buffer Sizing Problem / Logan Rakai and others
6
Effective Method for Simultaneous Gate Sizing and Vth Assignment Using Lagrangian Relaxation / Guilherme Flach and others
7
PushPull: Short-Path Padding for Timing Error Resilient Circuits / Yu-Ming Yang, Iris Hui-Ru Jiang, Sung-Ting Ho
8
Mixed-Crossing-Avoided Escape Routing of Mixed-Pattern Signals on Staggered-Pin-Array PCBs / Kan Wang and others
9
Reachability-Based Robustness Verification and Optimization of SRAM Dynamic Stability Under Process Variations / Yang Song, Hao Yu, Sai Manoj Pudukotai DinakarRao
10
Accelerated Performance Evaluation of Fixed-Point Systems With Un-Smooth Operations / Karthick Nagaraj Parashar, Daniel Menard, Olivier Sentieys
11
Optimizing the Antenna Area and Separators in Layer Assignment of Multilayer Global Routing / Wen-Hao Liu and Yih-Lang Li
12
Error Detection and Recovery for ECC: A New Approach Against Side-Channel Attacks / Kun Ma and Kaijie Wu
13
Input Test Data Volume Reduction for Skewed-Load Tests by Additional Shifting of Scan-In States / Irith Pomeranz
14
Latency Analysis for Sequential Circuits / Alexander Finder, André Sülflow, Görschwin Fey