Trường Đại học Nha Trang
Bộ GD&ĐT
Tra cứu văn bằng
E-Learning
E-Office
Giới thiệu
Chức năng nhiệm vụ
Nhân sự
Thời gian làm việc
Giới thiệu chung
Sơ đồ Thư viện
Tra cứu
Tìm lướt
Tìm Từ khóa
Tìm Chuyên gia
Tìm Toàn văn
Tra cứu liên thư viện
Tài Liệu Mới
Cơ sở dữ liệu mở
Tạp chí
Người dùng
Hướng dẫn (Video)
Hướng dẫn sử dụng
Gửi yêu cầu
Nội quy - Chính sách
Diễn Đàn
Gửi yêu cầu
DỊCH VỤ THƯ VIỆN
Dịch vụ miễn phí
Dịch vụ có phí
Đăng nhập
Nhan đề
Tác giả
Chủ đề
Điểm truy cập chính
Tóm tắt
Mọi trường
Toàn văn
Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Tập 33, Số 1, 2014
Mục lục:
Dòng
Nội dung
1
Cross-Layer Modeling and Simulation of Circuit Reliability / Yu Cao and others
2
Simultaneous Optimization of Analog Circuits With Reliability and Variability for Applications on Flexible Electronics / Yen-Lung Chen and others
3
Optimizing the Power Delivery Network in a Smartphone Platform / Woojoo Lee and others
4
Adaptive Energy Management for Dynamically Reconfigurable Processors / Muhammad Shafique, Lars Bauer, Jorg Henkel
5
An Integrated Framework Toward Defect-Tolerant Logic Implementation onto Nanocrossbars / Yehua Su and Wenjing Rao
6
A Blind Dynamic Fingerprinting Technique for Sequential Circuit Intellectual Property Protection / Chip-Hong Chang, Li Zhang
7
Optimized Micro-Channel Design for Stacked 3-D-ICs / Bing Shi, Ankur Srivastava
8
Algorithms for Maze Routing With Exact Matching Constraints / Muhammet Mustafa Ozdal, Renato Fernandes Hentschke
9
Path-Congestion-Aware Adaptive Routing with a Contention Prediction Scheme for Network-on-Chip Systems / En-Jui Chang and others
10
Capture-Power-Safe Test Pattern Determination for At-Speed Scan-Based Testing / Yi-Hua Li and others
11
A High-Throughput and Arbitrary-Distribution Pattern Generator for the Constrained Random Verification / Bo-Han Wu, Chun-Ju Yang, and Chung-Yang (Ric) Huang
12
Debugging RTL Using Structural Dominance / Hratch Mangassarian, Bao Le and Andreas Veneris
13
Erratum to “Test Time Reduction in EDT Bandwidth Management for SoC Designs” / From p.168-172